NX9000

Главная особенность конструкции  — ортогональность SEM и FIB пучков. Такой дизайн позволяет получать высокоразрешающие SEM-EDX-EBSD 3D реконструкции с режиме реального времени без искажений.

Использование прибора со специализированным программным обеспечением позволяет получать и обрабатывать 3D информацию на биологических и материаловедческих образцах в нанометровом масштабе легко и быстро.

Прибор может быть оснащён системой аргонового травления, системой переноса образца без доступа кислорода.

Product ID: 20853
Описание
SEM Источник электронов Источник автоэлектронной эмиссии с холодным катодом
  Ускоряющее напряжение 0.1кВ~30кВ
  Разрешение 2.1 нм на 1 кВ, 1.6 нм на 15 кВ
FIB Ускоряющее напряжение 0.5кВ~30кВ
  Ионный источник На основе жидкометаллического галлия
  SIM Разрешение 4нм на 30кВ
  Максимальный ток пучка 0.05pA to 100nA
Похожие товары
Готовы начать?
Подбор оборудования
Начать

Пользуясь сайтом, вы соглашаетесь с использованием cookies и политикой конфиденциальности.