ZEEnit 650 P — высокототехнологичный электротермический атомно-абсорбционный спектрометр с дейтериевой и Зеемановской коррекцией.
ZEEnit 650P
Описание
Важные особенности:
- 8-ламповая турель с функцией предпрогрева
- Одно- и двухлучевая оптическая схема в одной системе
- Высокочастотная дейтериевая коррекция и усовершенствованная зеемановская коррекция с возможностью изменять напряженность магнитного поля
- Интегрированная RFID-технология для работы с кодированными лампами
- Дополнительный источник питания ламп повышенной интенсивности SUPERLAMP для улучшения чувствительности
- Интегрированная видеокамера для наблюдения и контроля за процессами внутри печи в ходе дозирования и атомизации
- Графитовая печь с поперечным нагревом для эффективной атомизации, устранения эффектов памяти и высокого качества проведения анализа Высокая производительность
- Полностью автоматизированный анализ как жидких, так и твердых проб без предварительного растворения
- Высокопроизводительный автодозатор MPE для автоматического дозирования проб в печь с функцией автоматического разбавления и концентрирования
Прямой анализ твердых проб
Прямой анализ твердых проб методом ААС — уникальная особенность атомно-абсорбционных спектрометров Analytik Jena с электротермическим режимом атомизации.
Проведение такого анализа стало возможным благодаря особой конструкции атомизатора, использованию принципа поперечного нагрева печи и эффективным способам коррекции фона. Весь механизм ввода также сконструирован специально для работы с различными типами твердых проб, от порошков до мелких кусочков. Геометрия держателя обеспечивает корректный ввод лодочки в атомизатор, гарантирующий идеальные условия атомизации, а также автоматическое извлечение лодочки из печи после завершения измерения. Лодочка вместительная, позволяет отобрать представительную пробу достаточной массы.
При прямом анализе твердых проб одна из трудностей — это мешающее влияние фонового поглощения матрицы. Для ее решения в приборах серии ZEEnit используется усовершенствованный способ зеемановской коррекции фона, который позволяет работать при большей величине напряженности магнитного поля до 1 Тесла для лучшего расщепления σ- и π-компонент и определения корректной величины магнитного поля и работа в трехполевом режиме позволяющая варьировать чувствительность без разбавления.
