Поиск:

74 результатов найдено для ""
2 и 4 июня Kassa.Sreda провела научно-практические семинары по электронной микроскопии и хроматографии
2  июня (гостиница Атакент) и 4 июня (факультет химии и химической технологии Казахского национального университета им. Аль-Фараби) были проведены научно-практические семинары по электронной микроскопии (Hitachi) и хроматографии (Интерлаб). Всем присутствующим была предоставлена уникальная возможность изучить свои образцы на настольном сканирующем ...
SU3800/SU3900
Модель SU3800, как и его более вместительная версия SU3900, является универсальным стандартом семейства Hi-SEM Hitachi. SU3800 идеально подходит как для заводских лабораторий, сталкивающихся с широким спектром потребностей приложений: от исследований и разработок до мониторинга производства, анализа отказов и контроля качества, так для применения в...
SU9000
Микроскоп SU9000 с вольфрамовым катодом разрабатывался для достижения наивысшего разрешения при работе с нанообъектами, и выполнен «in-lens» дизайне. Электронная оптика SU9000 позволяет получать изображения морфологии поверхности образцов различных материалов, с детализацией вплоть до атомного или молекулярного уровня, что далеко превосходит по воз...
Сканирующе-просвечивающий электронный микроскоп HD2700
Сканирующе-просвечивающие микроскопы предназначены для работы с тонкими образцами, не уступая в возможностях традиционному просвечивающему микроскопу. Сам принцип формирования изображения позволяет выводить изображение одновременно с трёх детекторов BF, DF и SE. Любая модификация доступна на выбор с катодом Шоттки или с холодным полевым катодом. H...
Анализатор суммарных параметров multi N/C® UV HS
Прибор multi N/C® UV HS для проведения анализа методом «мокрой химии» Окисление пробы происходит в специальном реакторе под действием УФ-излучения в присутствии персульфата калия, который добавляется к пробе автоматически при необходимости. Система с УФ-реактором обеспечивает высокую чувствительность определения и позволяет работать со сложными м...
NX2000
Система с тройным (SEM-FIB-Ar Triple beam)пучком, предназначенная для получения ламелей для ПЭМ с минимальной аморфизацией и эффекта затенения. Пост-обработка ламелей низкоэнергетическим аргоновым пучком позволяет избежать аморфизации образца в зоне травления и получить высококачественную ламель для исследований методами просвечивающей электронной...
Установка ионного травления Hitachi ArBlade5000
Совершенная система ионного травления Hitachi с широким ионным пучком для получения исключительно качественных образцов. Предназначена для получения плоских шлифовальных или поперечных срезов. Широкий выбор системных конфигураций (стандартная система, с добавлением системы охлаждения (до -100 °С) и др.). Система ArBlade5000 оснащена разнообразными...
Готовы начать?
Подбор оборудования
Начать

Пользуясь сайтом, вы соглашаетесь с использованием cookies и политикой конфиденциальности.